隨著微型通訊、微型導航定位、微波通信、移動通信、遙測遙控、雷達天線、戰(zhàn)機隱身技術等領域的飛速發(fā)展，天線行業(yè)已在國民經濟中占據越來越重要的地位，尤其是移動通信天線、衛(wèi)星通信天線、微波通信等技術的飛速發(fā)展和廣泛應用，提高微波測量精密定位系統的技術水平就顯得非常重要，也十分關鍵。

在眾多微波天線測量測試系統中，CATR （緊縮場測試法）應用場景很豐富，該法是用緊 縮場反射面饋源系統來模擬一個無限遠場區(qū)，將饋源發(fā)射的球面波，反射成為一個偽平面相位波前，來完成天線的方向圖測量。反射面精度要求由兩部分組成，第一 部分是反射面本體的型面精度第二部分是反射面在暗室中 的安裝定位精度，即是反射面實物和理論設計模 型在空間的安裝擬合誤差。