400-688-3201
微波天線測(cè)量

隨著微型通訊、微型導(dǎo)航定位、微波通信、移動(dòng)通信、遙測(cè)遙控、雷達(dá)天線、戰(zhàn)機(jī)隱身技術(shù)等領(lǐng)域的飛速發(fā)展,天線行業(yè)已在國(guó)民經(jīng)濟(jì)中占據(jù)越來越重要的地位,尤其是移動(dòng)通信天線、衛(wèi)星通信天線、微波通信等技術(shù)的飛速發(fā)展和廣泛應(yīng)用,提高微波測(cè)量精密定位系統(tǒng)的技術(shù)水平就顯得非常重要,也十分關(guān)鍵。

微波天線測(cè)量

在眾多微波天線測(cè)量測(cè)試系統(tǒng)中,CATR (緊縮場(chǎng)測(cè)試法)應(yīng)用場(chǎng)景很豐富,該法是用緊 縮場(chǎng)反射面饋源系統(tǒng)來模擬一個(gè)無限遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),將饋源發(fā)射的球面波,反射成為一個(gè)偽平面相位波前,來完成天線的方向圖測(cè)量。反射面精度要求由兩部分組成,第一 部分是反射面本體的型面精度第二部分是反射面在暗室中 的安裝定位精度,即是反射面實(shí)物和理論設(shè)計(jì)模 型在空間的安裝擬合誤差。

客服中心
周一至周日 8:00 - 18:00
400-688-3201
Copyright ? 2021 為度科創(chuàng)檢測(cè)技術(shù)(蘇州)有限公司. All Rights Reserved. 蘇ICP備16043145號(hào)-1